涂層測(cè)厚儀故障排除方法

時(shí)間：2018-09-12作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：435

蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• x射線測(cè)厚儀分析范圍

  x射線測(cè)厚儀分析范圍能夠?qū){米級(jí)金屬膜進(jìn)行分析，非接觸式測(cè)試，快速無損。x射線測(cè)厚儀可以多點(diǎn)連續(xù)分析測(cè)試，大大提高分析速度好效率。x射線熒光鍍層測(cè)厚儀提供上門安裝和儀器操作培訓(xùn)，品牌廠家，質(zhì)量保證。鍍層膜厚檢測(cè)：有效進(jìn)行鍍層厚度的產(chǎn)品質(zhì)量管控。電鍍液分析：精確檢測(cè)電鍍液成分及濃度，確保鍍層質(zhì)量。水質(zhì)在線監(jiān)測(cè)：有效監(jiān)測(cè)電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水中的有害物質(zhì)含量，已達(dá)到排放標(biāo)準(zhǔn)。RoHS有害元素檢測(cè)：為電

• x射線熒光光譜儀測(cè)試方法

  能量色散X熒光光譜儀EDX 3600繼承了儀器EDX系列的準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器，可準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測(cè)試結(jié)果完全符合標(biāo)準(zhǔn)GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》的要求。 下面以x射線熒光光譜儀測(cè)

• 手持式光譜分析儀

  手持式光譜合金分析儀explorer系列產(chǎn)品的性能良好，精度高，接近實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析水平，可直觀顯示合良好號(hào)和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位）及ppm含量。開機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測(cè)試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過程僅需數(shù)秒便可完成，合良好號(hào)鑒別只需1~2秒鐘，操作簡(jiǎn)單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。采用堅(jiān)韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅(jiān)固耐用；密封式一體化設(shè)計(jì)，防塵、防水、防腐蝕，可在多種條

• 鍍層測(cè)厚儀工作原理

  利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。針對(duì)檢測(cè)樣本的不同種類，可在下列3種型號(hào)中進(jìn)行選擇。測(cè)量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號(hào)，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號(hào)，適合對(duì)陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時(shí)測(cè)量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測(cè)量的型號(hào)。 兼顧易