環(huán)保測(cè)試儀介紹

時(shí)間：2018-07-24作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：391

蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• 光電直讀光譜儀介紹

  光電直讀光譜儀的全譜分析技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；分析速度快捷，20秒內(nèi)測(cè)完所有通道的元素成分。針對(duì)不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線，使儀器用較短的時(shí)間達(dá)到較優(yōu)的分析效果； 金屬直讀光譜儀OES8000可測(cè)定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。 1、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室

• X射線測(cè)厚儀校正方法

  X射線測(cè)厚儀是檢測(cè)電鍍層厚度的儀器，通常x射線測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測(cè)厚儀又叫膜厚儀，測(cè)膜儀，鍍層測(cè)試儀，x射線鍍層測(cè)厚儀，金屬測(cè)厚儀，xrf測(cè)厚儀，x-ray測(cè)厚儀，x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀等。那么如何校正？ 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測(cè)厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校

• 鍍層測(cè)厚儀工作原理

  利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。針對(duì)檢測(cè)樣本的不同種類，可在下列3種型號(hào)中進(jìn)行選擇。測(cè)量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號(hào)，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號(hào)，適合對(duì)陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時(shí)測(cè)量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測(cè)量的型號(hào)。 兼顧易

• Thick800A

  Thick800A是集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。 thick800a性能特點(diǎn) 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求 高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005