分析X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理及特點(diǎn)

時(shí)間：2022-06-11作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：394

蘇州實(shí)譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測(cè)儀器等

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• x熒光鍍層測(cè)厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)

  ? ? ? ?x熒光鍍層測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W

• x射線鍍層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)具有什么原理？

  ? ? ?x射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中**種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多

• X光鍍層測(cè)厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚的

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀可無損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。本儀器具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)儀器。儀器廣泛運(yùn)用于工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當(dāng)然在實(shí)驗(yàn)室精細(xì)測(cè)量中也有運(yùn)用，包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測(cè)

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測(cè)定。? ? ? x熒光鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)