X光鍍層測厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測厚的

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：475

蘇州實(shí)譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測儀器等

• 詞條

  詞條說明

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測定。? ? ? x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號(hào)

• 分享一些有關(guān)“X光鍍層測厚儀”的使用特點(diǎn)

  ? ? ? X光鍍層測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、

• 分析X-RAY鍍層測厚儀的工作原理及特點(diǎn)

  ? ? ? X-RAY鍍層測厚儀是一種多功能實(shí)用型便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。 X-RAY鍍層測厚儀的工作原理：? ? ? ?鍍層

• x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)

  ? ? ? ?x熒光鍍層測厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W