SEM+EDS掃描電鏡*知識(shí)

時(shí)間：2022-05-13作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：563

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• 棧級(jí)信號(hào)測試

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  5月初新到貨一臺(tái)最新款的3D掃描設(shè)備！該設(shè)備采用藍(lán)光窄域波長投影技術(shù)，避免環(huán)境光而不受干擾，可以得到更精確的量測。光源亮度非常高，在品質(zhì)不佳的表面也能快速完成量測。藍(lán)光3D掃描 ATOS Capsule 12M 已就位，歡迎咨詢檢測！?1.3D色階偏差比對?2.各類尺寸分析測量?3.製程品質(zhì)管控分析?4.逆向抄數(shù)精度更高，效率更快，掃描分析功能更強(qiáng)大！