光老化試驗(yàn)機(jī)構(gòu) 氙燈UV老化測(cè)試

時(shí)間：2020-12-28作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：539

深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于無損探傷檢測(cè),材料檢測(cè)中心,UV老化測(cè)試,硬度檢測(cè)等

• 詞條

  詞條說明

• 三種泄漏電流的測(cè)試方法 哪種正確

  如何正確進(jìn)行接觸電流（泄漏電流）能力驗(yàn)證計(jì)劃試驗(yàn)并提交結(jié)果？接觸電流（泄漏電流）能力驗(yàn)證計(jì)劃試驗(yàn)需要測(cè)試樣品A-L、A-N、B-L、B-N處的泄漏電流，并報(bào)出A-L端的泄漏電流，那么如何測(cè)試各個(gè)端點(diǎn)的泄漏電流并且報(bào)出正確的結(jié)果呢？圖例：泄漏電流測(cè)試盒觀點(diǎn)A：L-N端接入220V市電，并在通電后的任意時(shí)間內(nèi)，利用泄漏電流儀測(cè)試各個(gè)端點(diǎn)的泄漏電流，并選擇L-A端的泄漏電流進(jìn)行數(shù)據(jù)報(bào)出。觀點(diǎn)B：L-N端

• 硬件可靠性的影響因素

  1．影響硬件可靠性的因素(1)元件失效。元件失效有三種：一是元件本身的缺陷，如硅裂、漏氣等；二是加工過程、環(huán)境條件的變化加速了元件、組件的失效；三是工藝問題，如焊接不牢、篩選不嚴(yán)等。(2)設(shè)計(jì)不當(dāng)。在計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)中，許多元器件發(fā)生的故障并不是元件本身的問題，而是系統(tǒng)設(shè)計(jì)不合理或元器件使用不當(dāng)所造成。?在設(shè)計(jì)過程中，如何正確使用各種型號(hào)的元器件或集成電路，是提高硬件可靠性不可忽視的重要因

• 硬度檢測(cè)影響因素

  測(cè)量工作使用的儀器設(shè)備很多，每種儀器設(shè)備在使用時(shí)都有許多不利因素影響其測(cè)量值的準(zhǔn)確性。本文僅對(duì)兩種常規(guī)儀器洛氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì))在使用時(shí)，*被檢測(cè)人員忽略的一些較常見的影響因素進(jìn)行針對(duì)性分析，并提出了解決辦法。粗糙度粗糙度的影響及解決辦法我們知道，用臺(tái)式?**級(jí)恒溫水浴測(cè)量布氏硬度時(shí)，的壓頭是鋼球壓頭，在一定的壓力下壓入被測(cè)表面而得到一個(gè)圓形壓痕，再用讀數(shù)顯微鏡測(cè)量圓形壓痕的直徑，然后

• *槽盒檢測(cè)

  *電纜槽又叫無機(jī)*槽盒，有良好的隔熱、*、耐腐和適用環(huán)境廣等性能，還具有重量輕、承載力大、安全可靠的特點(diǎn)，技術(shù)上達(dá)到國(guó)內(nèi)**水平。適用場(chǎng)所：對(duì)于不同使用場(chǎng)合，*槽盒可分為四部分：1）耐火型全封閉槽盒：該產(chǎn)品適用于10KV以下電力電纜，以及控制電纜、照明配線等室內(nèi)室外架空電纜溝、隧道的敷設(shè)。2）耐火型半封閉槽盒：該產(chǎn)品能夠經(jīng)受火焰熏烤，槽內(nèi)溫度可以限制在電纜安全運(yùn)行允許值內(nèi)，盒蓋為雙層蓋板。