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詞條說明
芯片分析方法1.OM 光學顯微鏡觀察,外型分析2.C-SAM(**音波掃描顯微鏡)(1)原材料里面的晶格常數(shù)構造,殘渣顆粒物,參雜物,沉淀,(2) 內(nèi)部裂痕。 (3)分層次缺陷。(4)裂縫,汽泡,間隙等。3. X-Ray 檢驗IC封裝中的各種各樣缺陷如層脫離、崩裂、裂縫及其打線的一致性,PCB工藝中也許出現(xiàn)的缺陷如兩端對齊欠佳或中繼,**、短路故障或異常聯(lián)接的缺陷,封裝形式中的錫球一致性。(這幾類是
Smart Scope FLASH/CNC等系列OGP影像測量設備優(yōu)勢
??大多數(shù)傳統(tǒng)的視頻測量顯微鏡都具有共同的光學特性,包括具有相對較小的視場和較淺的焦距。傳統(tǒng)的比較儀通常也有一個淺景深。視場根據(jù)屏幕大小和放大率而變化。?例如,一個14英寸的比較儀(100x)一次只能看到零件的0.14英寸,而一個30英寸的比較儀(10x)一次只能看到零件的3.0英寸。對于傳統(tǒng)的視頻測量顯微鏡和比較儀來說,視場相對較小,為了測量整個零件,需要進行多級移
SmartScope MVP和SmartScope Flash/CNC測量系統(tǒng)的相機新配備
數(shù)碼相機的好處是很多的-提供較好的測量性能,高可靠性和較低的成本。SmartScope 的系列產(chǎn)品諸如SmartScope Flash/CNC 具有優(yōu)異的相機配置。?與相同的系統(tǒng)及傳統(tǒng)模擬相機相比,一套優(yōu)異的數(shù)字測量相機可以實現(xiàn)較快的測量與較好的分辨率和精度。只要光學系統(tǒng)和相機像素大小與待測部件和特征匹配良好,像素越多,分辨率就越高。沒有顯卡;因此可以使用較緊湊的計算機。連接很簡單,并且
OGP不僅是**良好的非接觸及多元傳感測量系統(tǒng)的創(chuàng)造者,也占據(jù)并**著全世界三維影像測量的技術發(fā)展和*。OGP的三次元測量儀器,采用非接觸式(光學)的方式,用于測量各種材質(zhì)、顏色、透明或半透明零件的幾何尺寸和形位公差(較可以在同一坐標系下采用激光、探針等測量方式);測量行程從200mm到2000mm,測量精度從2um到4um,可根據(jù)用戶產(chǎn)品的特點和要求量身選配經(jīng)濟、高效的測量產(chǎn)品系列。OGP系列
公司名: 似空科學儀器(上海)有限公司
聯(lián)系人: 張經(jīng)理
電 話: 13817595909
手 機: 18657401082
微 信: 18657401082
地 址: 上海浦東張江浦東新區(qū)碧波路 690 號張江微電子港 7 號樓 6 樓
郵 編:
網(wǎng) 址: kenndt.cn.b2b168.com
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