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詞條說明
貴金屬鍍飾鍍層測厚在實(shí)際應(yīng)用中存在一些挑戰(zhàn)和難點(diǎn),以下是其中一些主要難點(diǎn):?1. 薄層厚度測量:貴金屬鍍飾鍍層通常具有非常薄的厚度,通常在納米至微米的范圍內(nèi)。這使得傳統(tǒng)的測厚方法,如常規(guī)的厚度計(jì),可能不夠精確,難以準(zhǔn)確測量這樣薄的鍍層。?2. 多層結(jié)構(gòu)影響:在一些情況下,貴金屬鍍飾鍍層可能是多層結(jié)構(gòu),由不同的金屬層組成。這種情況下,測量可能受到不同層之間互相影響的問題,從而導(dǎo)致
隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測器以后,對X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF),用X射線管產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上,所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入半導(dǎo)體探測器,便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進(jìn)行快速同時(shí)測定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測元素原子的
光譜儀是一種利用光的色散性質(zhì)進(jìn)行光譜分析的儀器。它是科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)和醫(yī)療診斷中不可或缺的工具,有著廣泛的應(yīng)用**。接下來我們就跟著一六儀器一起來了解一下關(guān)于光譜儀的原理及應(yīng)用。一、光譜儀原理光譜儀的通常工作原理是將要分析的光通過一個(gè)光柵或棱鏡進(jìn)行分光,將不同波長的光分別聚焦在不同的位置上,最后利用光電探測器測量不同波長處的光強(qiáng)度,從而獲得樣品的吸收或**光譜。常見的光譜儀包括紫外可見光譜儀、紅
XRF測厚儀*特的光路交換裝置,讓X射線和可見光射向同一垂直線,達(dá)到測試不同距離的定位與視覺在同一位置,搭配嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片切換裝置,X光擴(kuò)散度較小;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時(shí)特征X射線可以穿透測試較厚的表層。接下來和一六儀器了解XRF測厚儀應(yīng)對八大重金屬的檢測方案。一、八大重金屬指哪些元素,其限值各有多少?八大重金屬指:鉛(Pb)
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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