手持式合金分析儀在煉銅方面的應(yīng)用

時(shí)間：2020-08-14作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：224

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• 詞條

  詞條說明

• ROHS重金屬光譜儀

  ROHS重金屬光譜儀屬貴重精密儀器，使用存放中必須注意保養(yǎng)。1.若儀器放置不用時(shí)，就需要用防塵罩蓋好，放在干燥、通風(fēng)的安全之處。2.在使用中要注意以下幾項(xiàng)：①??? 鍵盤操作，動(dòng)作要輕，不可用力過猛，以免損壞鍵盤。②??? 向樣品腔內(nèi)放樣品時(shí)，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會(huì)污染X光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞。③

• 電鍍層測(cè)厚儀的熒光X射線儀檢測(cè)原理

  ● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測(cè)量儀的特征*可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。*薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外，適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。*備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。（SII**）● 2.測(cè)量原理如圖1所示，

• X射線金屬鍍層膜厚儀

  鍍層膜厚儀性能特點(diǎn)滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果較加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)技術(shù)指標(biāo)型號(hào)：Thick 800

• 昆山x射線金屬鍍層測(cè)厚儀

  1、原理：X射線照射樣品，經(jīng)過鍍層界面，射線返回的信號(hào)發(fā)生突變，根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難（信號(hào)分不開）。2、XRF鍍層測(cè)厚儀：俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U)。