詞條
詞條說(shuō)明
三維光學(xué)輪廓儀是利用白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成的用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器。它的顯著特點(diǎn)是可以達(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度,并可以快速獲取被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè),其主要用途是用于成品的質(zhì)量管理,確保良品合格率??蓮V泛應(yīng)用于各類精密工件表面質(zhì)量要求較高的如:半導(dǎo)體、微機(jī)電、納米材料、生物醫(yī)療、精密涂層、科研院所、航空航天等領(lǐng)域??梢哉f(shuō)只要是微型范圍內(nèi)重點(diǎn)部位的納米級(jí)粗糙度、輪廓等參數(shù)
設(shè)備儀器共焦測(cè)量原理:由光源射出一束寬光譜的復(fù)色光(呈白色),通過(guò)色散鏡頭發(fā)生光譜色散,形成不同波長(zhǎng)的單色光,每一個(gè)波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)一個(gè)到被測(cè)物體的距離值。測(cè)量光射到物體表面被反射回來(lái),只有滿足共焦條件的單色光,可以通過(guò)小孔被光譜儀感測(cè)到。通過(guò)計(jì)算被感測(cè)到的光的波長(zhǎng),換算獲得距離值?;焐馐怯杀姸嗖煌ㄩL(zhǎng)光線組成的,我們稱之為光譜。所有不同波長(zhǎng)的可見光重疊在一起,形成白光。人類肉眼可見光的波長(zhǎng)范圍從400
【一鍵式測(cè)量?jī)x】一鍵式影像測(cè)量?jī)x的原理
一鍵式影像測(cè)量?jī)x又被稱作影像測(cè)量標(biāo)尺、閃測(cè)影像尺寸測(cè)量?jī)x,是一種新型影像測(cè)量技術(shù)的代表。該技術(shù)由一些外企較先將此**技術(shù)引進(jìn)國(guó)內(nèi),并在2013年前后實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化。以下文字主要從儀器的測(cè)量結(jié)構(gòu)、原理、功能、優(yōu)點(diǎn)、缺點(diǎn)及實(shí)際應(yīng)用視角出發(fā)講解一鍵式影像測(cè)量?jī)x的相關(guān)知識(shí)。一鍵式影像測(cè)量?jī)x是一種新型的影像測(cè)量技術(shù)。它和傳統(tǒng)的二次元影像測(cè)量?jī)x不同的是它不再需要光柵尺位移傳感器作為精度標(biāo),也不經(jīng)過(guò)大焦距的鏡頭經(jīng)過(guò)
【一鍵式影像測(cè)量?jī)x】一鍵式影像測(cè)量?jī)x的優(yōu)缺點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn)(1).測(cè)量速度較快,能在2到5秒內(nèi)完成100個(gè)以內(nèi)的尺寸的繪圖、測(cè)量及公差的評(píng)價(jià),效率是傳統(tǒng)二次元影像測(cè)量?jī)x的數(shù)十倍。(2).?避免了因測(cè)量行程增大而受到影響阿貝誤差。重復(fù)測(cè)量精度高,解決了同一個(gè)產(chǎn)品反復(fù)測(cè)量數(shù)據(jù)一致性?差的現(xiàn)象。(3).儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,不需要位移標(biāo)尺光柵尺,在測(cè)量過(guò)程中也不需要移動(dòng)工作臺(tái),所以儀器的穩(wěn)定性能很?好。(4).?由于精度標(biāo)尺
公司名: 佰視特智能技術(shù)(東莞)有限公司
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