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詞條說明
多光束光斑分析儀在3D感應(yīng)系統(tǒng),面部識別方面的應(yīng)用
隨著新技術(shù)的發(fā)展對光斑分析儀提出了更高的要求,由于普通光束分析儀一般情況下一次只能測量一個光束,進(jìn)而滿足不了市場的需求。例如激光二極管的市場不斷擴(kuò)大,像手勢識別,自動駕駛,高性能激光器等許多新興應(yīng)用都是基于多光束并行發(fā)射的概念,并行發(fā)射的實(shí)現(xiàn)則需要由很多個激光器組成,并都從一個晶片發(fā)射出來。例如蘋果的新款手機(jī)iPhone10,其發(fā)射了約30,000個光束點(diǎn)并將其投影到用戶的臉部,而反射的信息被接收
Terasense提供的100 GHz和140 GHz源的有限折扣優(yōu)惠,趕緊在2023年底前訂購100 GHz和140 GHz源型號,您將獲得10%的折扣!折扣適用于以下Terasense太赫茲源型號:~100 GHz(≥80 mW)~100 GHz(~180 mW)~100 GHz(≥400 mW)~100 GHz(≥800 mW)~140 GHz(>30mW)~140 GHz(≥80mW
集塵環(huán)境下使用Specim高光譜相機(jī)的注意事項
高光譜成像是一種表面測量方法,因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會干擾掃描并阻礙測量。那么如何在多塵環(huán)境中操作高光譜相機(jī)測量樣品呢??灰塵出現(xiàn)在被測物體上干凈的樣品總是得到更好的測量,能提高它們的識別度。例如,在測量樣品核心部分時,必須在掃描之前清潔樣品。在回收過程中,灰塵或包裝標(biāo)簽會阻礙系統(tǒng)的分揀精度。如果要分揀的材料無法清潔或充分暴露在攝像機(jī)下,則需要調(diào)整分揀算法以將這種情況考慮在內(nèi)
近幾年,利用高功率短脈沖準(zhǔn)直激光干涉圖像系統(tǒng)(DLIP)來重塑表面的結(jié)構(gòu),這一方面越來越受到人們的關(guān)注。由于使用Holoor的高功率衍射光學(xué)元件(DOE)應(yīng)用在DLIP系統(tǒng)中的客戶比較多,我們覺得非常有必要為該領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)的技術(shù)支持,并推出了DLIP光學(xué)系統(tǒng)的Zemax OpticStudio設(shè)計文件,并共享給有需要的客戶。在Zemax軟件中,能夠模擬光束的基本性能和公差,還可以自定義的輸入
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯(lián)系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
手 機(jī): 18926463275
微 信: 18926463275
地 址: 廣東深圳龍崗區(qū)龍崗區(qū)平湖街道華南城1號館
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網(wǎng) 址: welloptics.cn.b2b168.com
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