一文看懂LED燈需要做哪些檢測(cè)

時(shí)間：2025-10-28作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測(cè)技術(shù)有限公司瀏覽：268

武漢市鑫宇環(huán)檢測(cè)技術(shù)有限公司專注于光電產(chǎn)品檢測(cè),可靠性試驗(yàn),第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)等

• 詞條

  詞條說明

• 元器件的失效原因和故障檢查方法

  電子元器件在使用過程中，常常會(huì)出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時(shí)定位到元器件的故障原因，就能及時(shí)排除故障，讓設(shè)備正常運(yùn)行。 ?溫度導(dǎo)致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對(duì)元器件的影響。 ?溫度變化對(duì)半導(dǎo)體器件的影響： 由于P

• 電感可靠性測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)

  電感可靠性測(cè)試分為環(huán)境測(cè)試和物理測(cè)試兩種。 一般的SMD型電感，貼片功率電感，插件電感等都會(huì)做這樣的測(cè)試。環(huán)境測(cè)試主要測(cè)試電感的耐溫性，耐濕性，熱沖擊等；物理測(cè)試主要是測(cè)試電感的強(qiáng)度，可焊性，再流焊，跌落，碰撞等。 一、電感可靠性測(cè)試之環(huán)境測(cè)試 MIL-STD-202G Method 108A 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 1.無明顯的外觀缺陷 2.感值變化不**過10% 3.品質(zhì)因數(shù)變化不**過30% 4.直流電阻

• HAST試驗(yàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法

  ??HAST試驗(yàn)是高加速溫濕度應(yīng)力測(cè)試，也稱高壓蒸煮試驗(yàn)是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件性測(cè)試方法。其目的是通過將測(cè)試室中的水蒸氣壓力增加到測(cè)試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性。????????HAST測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與高溫/高濕測(cè)試（85°C/85% RH）相比，HAST 由于濕

• 氙燈光源加速老化試驗(yàn)的概述和應(yīng)用

  01、概述 材料在室外使用時(shí)，長(zhǎng)期暴露在日光或玻璃過濾后的日光下，因此測(cè)定光、熱、濕度和其他氣候應(yīng)力對(duì)材料顏色和性能的影響非常重要。 然而，通常需要采用特定實(shí)驗(yàn)室光源加速老化試驗(yàn)來較加快速的測(cè)定光、熱、濕度對(duì)材料物理、化學(xué)和光學(xué)性能的影響。實(shí)驗(yàn)室設(shè)備中的暴露在比大氣老化有更多的可控條件下進(jìn)行，用來加速高聚物講解和產(chǎn)生實(shí)效。 因?yàn)閷?shí)驗(yàn)室加速暴露與實(shí)際使用的差異，且實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)往往不能再現(xiàn)實(shí)際使用條件下