PCB電路板真空烘箱的正確使用方法

時間：2023-08-02作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：195

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 高低溫濕熱低氣壓試驗箱

  高低溫濕熱低氣壓試驗箱 ? 氣壓降低會使許多產(chǎn)品性能受到影響。氣壓變化產(chǎn)生的壓差作用會使密封產(chǎn)品損壞；同時氣壓降低會增加散熱產(chǎn)品的溫升，導(dǎo)致產(chǎn)品的性能下降或運行不穩(wěn)定等現(xiàn)象出現(xiàn)。高溫低氣壓條件也會使空氣介電強度顯著降低，從而使電弧、表面放電或電暈放電的危險性增加，導(dǎo)致設(shè)備的正常工作狀態(tài)被破壞。因此，高海拔、航空運輸及儲藏評價試驗中得到應(yīng)用。特別是機載、信息、電子等領(lǐng)域，用于確定材料、部

• 高低溫環(huán)境測試的作用

  高低溫環(huán)境測試可以稱為作高低溫循環(huán)測試，是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試的其中一項。高低溫循環(huán)測試可以測試產(chǎn)品在不用高低溫氣候環(huán)境下的可靠性和耐力，目的是用來制定產(chǎn)品在不同高低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性方法。高低溫循環(huán)測試根據(jù)測試樣品不同，適用條件、范圍不同，其測試標(biāo)準(zhǔn)也都不一樣。試驗的嚴(yán)苛程度取決于試驗所用的溫度范圍和持續(xù)暴露的時間。隨著現(xiàn)代工業(yè)飛速發(fā)展和較新?lián)Q代，環(huán)境試驗設(shè)備中的高低溫測試設(shè)

• GB/T2423.1低溫試驗步驟

  GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)低溫試驗標(biāo)準(zhǔn)，等同于**標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗的步驟如下：1.初步檢測。通過目視檢查和（或）按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測來獲知試驗樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗。試驗樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。如果有試驗樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的意外情況，整個試驗持續(xù)的時間應(yīng)該從試驗樣品通電時開始計算。通常這種

• 鹽霧試驗測試的標(biāo)準(zhǔn)是什么

  鹽霧試驗是一種利用鹽霧試驗設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來確認(rèn)產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。試驗的嚴(yán)苛程度取決于曝露持續(xù)時間。實驗室常用的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.17，IEC60068-2-11,GB/T 10125，ISO 9227，ISO4628-3, ASTM B117, JIS-Z2371, JIS-G3141, GJB 150.1, MIL-STD-810F, MIL-ST