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探測器 依分辨率高低檔次由低**常用的探測器有NaI晶體閃爍計數(shù)器,充氣(He,Ne,Ar,Kr,Xe等)正比計數(shù)管器、HgI2晶體的探測器、半導(dǎo)體致冷SiPIN探測器、高純硅晶體的探測器、高純鍺晶體的探測器、電致冷或著液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體的探測器、Ge(Li)鋰漂移鍺探測器等。 目前常用的是電致冷或液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體的探測器、SiPIN探測器、高純的硅晶體探測器。探測器
等離子體納米涂層設(shè)備是一款干式環(huán)保的等離子體處理設(shè)備,可根據(jù)客戶的要求設(shè)計**物等離子氣相沉積系統(tǒng),設(shè)備能適用于客戶的各種嚴(yán)苛環(huán)境,在各種產(chǎn)品表面獲得厚度高度高度均一化的功能性納米涂層,并具有**級疏水、疏油、斥水、靜電消除,防刮蹭、防指紋、自清潔優(yōu)越性。等離子體納米涂層設(shè)備省去了濕法化學(xué)處理工藝中所不可缺少的烘干,廢水處理等工藝整個生產(chǎn)流程綠色環(huán)保,不使用有害溶劑,自然不會產(chǎn)生有害物質(zhì),低溫等離子
三坐標(biāo)測量儀測量方法三坐標(biāo)測量機(CMM)的測量方式通??煞譃榻佑|式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸并用式測量。其中,接觸測量方式常用于機加工產(chǎn)品、壓制成型產(chǎn)品、金屬膜等的測量。為了分析工件加工數(shù)據(jù),或為逆向工程提供工件原始信息,經(jīng)常需要用三坐標(biāo)測量機對被測工件表面進行數(shù)據(jù)點掃描。以三坐標(biāo)的FOUNCTION-PRO型三坐標(biāo)測量機為例,介紹三坐標(biāo)測量機的幾種常用掃描方法及其操作步驟。三坐標(biāo)測量機的
大氣(常壓)等離子表面處理設(shè)備的種類很多,根據(jù)不同應(yīng)用環(huán)境和材料,通常采用不同放電機制的等離子體技術(shù)。大氣射頻等離子表面處理設(shè)備特點、用途大氣射頻等離子表面處理設(shè)備即單電極等離子體處理機所產(chǎn)生的低溫等離子體其離子和電子的能量可達7-10eV,可以處理聚丙烯(PP)、聚乙烯 (PE)、聚氯乙烯(PVC)、氧化丙烯橡膠聚烯烴PO、聚苯乙烯 (PS)、ABS、聚酯(PET、APET)、聚氨酯(PUL)、
公司名: 深圳瑞程科技有限公司
聯(lián)系人: 張先生
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手 機: 19129541610
微 信: 19129541610
地 址: 廣東深圳坪山區(qū)深圳市坪山區(qū)龍?zhí)锝值览峡由鐓^(qū)坑梓錦繡中路18號齊心科技園3號
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網(wǎng) 址: zhang8929.b2b168.com
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