短波紅外顯微鏡：下一代的*技術(shù)——元奧儀器

時間：2026-01-16作者：廣州市元奧儀器有限公司瀏覽：1

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• 短波紅外顯微鏡：下一代的*技術(shù)——元奧儀器

  短波紅外顯微鏡：下一代的前沿技術(shù)——元奧儀器短波紅外（SWIR）顯微鏡的應(yīng)用半導(dǎo)體檢測在半導(dǎo)體行業(yè)，摩爾定律的縮放性挑戰(zhàn)正在推動該行業(yè)開發(fā) 2.5D/3D-IC 和先進(jìn)的封裝技術(shù)以提高性能。硅是大多數(shù)電子設(shè)備的支柱，在可見光波長下是不透明的，從而限制了對其表面結(jié)構(gòu)的檢查。在大于硅的帶隙（1100 nm）的短波紅外（SWIR）波長下，硅是透明的。使用 SWIR 顯微鏡可以看到結(jié)構(gòu)層， 便于在切割前實(shí)

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