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使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC焊接問題有哪些注意事項(xiàng)
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題時(shí),需兼顧硬件連接的可靠性、信號分析的準(zhǔn)確性和調(diào)試邏輯的嚴(yán)謹(jǐn)性,避免因操作不當(dāng)導(dǎo)致誤判或遺漏問題。以下是關(guān)鍵注意事項(xiàng):一、硬件連接與探針設(shè)置:避免“檢測工具引入新問題”探針接觸必須可靠,排除“假陽性”干擾焊接問題的**是“物理連接異?!保舴治鰞x探針與SPMI引腳接觸不良(如探針未壓緊、探針頭氧化),會(huì)導(dǎo)致信號捕獲失真(如波形毛刺、信號丟失),易被誤判為焊接問題。
使用 PGY-PCIeLP-SBA 對 PCIe 接口進(jìn)行邊帶信號分析
芯片供應(yīng)商需要驗(yàn)證 DUT 不同狀態(tài)下邊帶信號的電氣時(shí)序測量,并查看長期一致性。為了滿足這一要求,Prodigy Technovations 開發(fā)了?PCIe邊帶信號分析儀。它監(jiān)控這些信號并提供多周期運(yùn)行中測量的統(tǒng)計(jì)信息,以確保穩(wěn)定可靠的運(yùn)行。PGY-PCIeLP-SBA 包括 discovery 系列邏輯分析儀(掌上大?。瑤в杏糜?REFCLK 的 PCIe 邊帶信號分析的定制邏輯、
I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)中心和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預(yù)計(jì)未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&
UFS 4.0 在汽車領(lǐng)域的應(yīng)用:為下一代汽車提供動(dòng)力
在當(dāng)今快速發(fā)展的汽車環(huán)境中,車輛正在轉(zhuǎn)變?yōu)閺?fù)雜的互聯(lián)計(jì)算平臺(tái)。隨著制造商不斷突破安全性、連接性和用戶體驗(yàn)的界限,對高性能存儲(chǔ)解決方案的需求變得至關(guān)重要。通用閃存存儲(chǔ) (UFS) 4.0?正在成為滿足這些需求的關(guān)鍵技術(shù),可提供**快的數(shù)據(jù)傳輸、低延遲和較高的能效。在這篇文章中,我們探討了 UFS 4.0 如何徹底改變汽車系統(tǒng),以及為什么它正在成為下一代汽車的支柱。現(xiàn)代車輛對高性能存儲(chǔ)的需求汽
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證

100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀

Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片研發(fā)測試驗(yàn)證

Prodigy SD eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS芯片研發(fā)測試驗(yàn)證

Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀

歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡

歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料

歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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聯(lián)系人: 鄭陽燕
手 機(jī): 18588455974
電 話: 19926571623
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