高低溫試驗(yàn)箱常見(jiàn)故障的解決方法

時(shí)間：2023-05-12作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：154

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 實(shí)驗(yàn)室烘箱的使用方法及注意事項(xiàng)

  實(shí)驗(yàn)室烘箱是實(shí)驗(yàn)室中一種重要的設(shè)備，用于對(duì)樣品進(jìn)行干燥、加熱等處理。正確使用實(shí)驗(yàn)室烘箱對(duì)于保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性、避免安全事故都至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹實(shí)驗(yàn)室烘箱的使用方法及注意事項(xiàng)。一、實(shí)驗(yàn)室烘箱的使用方法（一）準(zhǔn)備在使用實(shí)驗(yàn)室烘箱之前，需要**行準(zhǔn)備工作。首先，要確保烘箱的外部環(huán)境干燥清潔，避免潮濕的環(huán)境對(duì)烘箱的影響。其次，要將烘箱內(nèi)部清潔干凈，以免樣品污染。Z后，要檢查烘箱的電源連接是否正常，

• 真空干燥箱要先抽真空再升溫加熱

  真空干燥箱要先抽真空再升溫加熱 真空干燥箱為什么要先抽真空再升溫加熱? 1)如果按先升溫加熱再抽真空的程序操作，加熱的空氣被真空泵抽出去的時(shí)候，熱量必然會(huì)被帶到真空泵上去，從而導(dǎo)致真空泵溫升過(guò)高，有可能使真空泵效率下降。 2)加熱后的氣體被導(dǎo)向真空壓力表，真空壓力表就會(huì)產(chǎn)生溫升。如果溫升**過(guò)了真空壓力表規(guī)定的使用溫度范圍，就可能使真空壓力表產(chǎn)生示值誤差。 正確的使用方法應(yīng)該先抽真空再升溫加熱。待

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門(mén)用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè)：1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：85℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件：-40℃～85℃持續(xù)時(shí)間：200

• 判斷電容器壽命與溫度的相關(guān)性—10度法則

  容器的壽命是一般電子產(chǎn)品壽命的較低要求，在高低溫試驗(yàn)箱、高溫老化房等實(shí)驗(yàn)設(shè)備作高低溫試驗(yàn)和老化試驗(yàn)的過(guò)程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關(guān)系的一個(gè)基本的簡(jiǎn)單原則。溫度是環(huán)境應(yīng)力中經(jīng)常的參數(shù)，通過(guò)高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等試驗(yàn)設(shè)備得以實(shí)現(xiàn)。材料、產(chǎn)品或者元器件在試驗(yàn)箱中通過(guò)電熱管加熱產(chǎn)生溫升，或者高溫（比如70℃，甚至150℃等），或