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? ? ? 開機特性是用來描述頻率標(biāo)準(zhǔn)從開機到穩(wěn)定工作的過程。開機特性的測試設(shè)備與準(zhǔn)確度的測試設(shè)備相同,即可以用測頻法的設(shè)備和測時法的設(shè)備。由于開機特性是測量頻率標(biāo)準(zhǔn)開機過程中頻率變化的情況,因此參考頻率標(biāo)準(zhǔn)和測時儀器的要求與準(zhǔn)確度測試時相同。? ? ? 原子頻率標(biāo)準(zhǔn)開機時,輸出標(biāo)準(zhǔn)頻率信號的晶體振蕩器處于自由工作狀態(tài),其準(zhǔn)確度較差,隨著
? ? ?從阿侖方差的定義可知,取樣數(shù)組m應(yīng)為無窮多組,但NTP服務(wù)器頻標(biāo)的測試不允許m為無窮多。從盡可能少測試誤差和實際測試的可能性兩方面考慮,不同取樣時間的取樣數(shù)組的建議對于t 較小時的測試,還可多測幾次阿侖方差平均值,以減小測量誤差。? ? ?對原子頻率標(biāo)準(zhǔn),常常關(guān)心取樣時間為日的頻率穩(wěn)定度。在這類較長取樣時間的穩(wěn)定度的測試中,如果
在實際測試中,對無間隙的要求并不是非常嚴(yán)格,一般來說,當(dāng)間隙時間能滿足下式表述條件時,即可認(rèn)為這樣的測試是無間隙的。T為取樣周期,t 為取樣時間,故T-t即測量間隙時間,而f為測量儀器**截止頻率。在實際測試中這樣2個條件往往是能夠滿足的。如果確實無法滿足間隙取樣時,在已知頻率標(biāo)準(zhǔn)噪聲模型的條件下,可以通過查詢巴納斯函數(shù)簡表,將測得的有間隙的狹義阿侖方差換算到無間隙的狹義阿侖方差。理論分析表明對
? ? ? NTP服務(wù)器頻差倍增測頻法比直接測頻法的測量誤差已大為減小,但受計數(shù)器測頻方法的限制,在高穩(wěn)原子頻率標(biāo)準(zhǔn)穩(wěn)定度測試時其測量誤差就顯太大。如果在頻差倍增的基礎(chǔ)上不直接測量頻率而是測量差頻的周期,可使這種方法的測量誤差遠(yuǎn)小于直接測頻法。? ? ? 頻差倍增測周法中的頻差倍增器的工作原理如前所述,其輸出頻率中已包含倍增至M*(f1-
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