光譜分析儀生產(chǎn)廠家介紹光譜儀的構(gòu)成及相關(guān)性能

時(shí)間：2022-06-16作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：233

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 鍍層測(cè)厚儀在電力系統(tǒng)中的鍍銀層測(cè)試應(yīng)用

  銀(Argentum)為過(guò)渡金屬的一種，化學(xué)符號(hào)Ag。銀除了是一種美麗的銀白色的貴金屬，被廣泛的應(yīng)用在珠寶首飾上。它還具有很好的延展性，其導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性在所有的金屬中都是較高的。因此銀常用來(lái)制作靈敏度較高的物理儀器元件，各種自動(dòng)化裝置、火、潛水艇、計(jì)算機(jī)、核裝置以及通訊系統(tǒng)，所有這些設(shè)備中的大量的接觸點(diǎn)都是用銀制作或者表面鍍銀的處理。在電力系統(tǒng)的變電站中，導(dǎo)電回路的動(dòng)接觸部位和母線靜接觸部位應(yīng)鍍銀

• 上照式x熒光光譜儀有哪些你不知道的產(chǎn)品細(xì)節(jié)?使用注意事項(xiàng)

  XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了**測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測(cè)及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)**多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量軟件置入**的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。上照式x熒光光譜儀產(chǎn)品細(xì)節(jié)：高精密移動(dòng)裝置快速精準(zhǔn)定位;自動(dòng)

• XU-100光譜測(cè)厚儀相比其他品牌測(cè)厚儀有哪些優(yōu)勢(shì)？

  XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無(wú)損測(cè)量。檢測(cè)各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005μm,較近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)030mm,是一款測(cè)量鍍層厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。① 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。② 高精密微型移動(dòng)滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。③ 微焦X

• X熒光光譜儀對(duì)于陶瓷金屬化之燒滲法的涂層厚度測(cè)試

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時(shí)完成組分和厚度測(cè)試，厚度的測(cè)量范圍視材料和元素而定。接下來(lái)和一六儀器一起了解X熒光光譜儀對(duì)于陶瓷金屬化之燒滲法的涂層厚度測(cè)試。燒滲法也叫被銀法。這種方法是在陶瓷的表面燒滲一層金屬銀，作為電容器、濾波器的電極或集成電路基片的導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)。銀的導(dǎo)電能力強(qiáng)，抗氧化性能好，在銀面上可直接焊接金屬。燒滲的銀層結(jié)合牢固，熱膨脹系數(shù)與瓷坯接近，熱穩(wěn)定性好。此外燒滲的溫度較低，燒滲工