RoHS檢測儀在測試時受周邊環(huán)境影響嗎

時間：2022-06-09

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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膜厚儀檢測鍍層厚度的原理
膜厚儀檢測鍍層厚度的原理磁性測厚法是利用樣品與標準磁鐵之間的吸引力變化轉化為涂層厚度。該方法僅適用于對磁性能敏感的基體上的非磁性涂層，如鋼基體上的銅、鋅、錫等涂層。鋼件上的鎳涂層不能很好地測量結果。磁性測厚法的優(yōu)點是為鋼基體上的非磁性涂層提供了一種快速的測量方法，其精度可達85%-90%。測量樣品的粗糙度對測量結果有影響。如果被測部分的基體非常薄,例如,如果樣品的厚度小于0.25毫米,會有一個很大
RoHS2.0檢測項目及要求
ROHS2.0測試儀器-RoHS2.0檢測項目及要求1.RoHS2.0標準介紹。RoHS是由歐盟立法制定的強制性標準，其全名是《限制在電子電氣設備中使用某些有害成分的指令》(RoHS是歐盟立法制定的強制性標準)。該標準已于2006年7月1日起正式實施，主要用于規(guī)范電子電氣產品的材料和工藝標準，使其較有利于人類健康和環(huán)境保護。該標準的目的是消除電子電氣產品中的鉛.汞.鎘.鎘.鎘.鎘.鎘.鎘.醚等6種
膜厚儀的主要功能
膜厚儀的主要功能1.薄膜厚度計適用于測量金屬、塑料、陶瓷、玻璃等產品的厚度，因為這些產品是良好的聲音導體，可以實現高精度的檢測服務，幫助我們較好地檢測產品。2.膜厚儀還可配備多種不同頻率同晶片尺寸的雙晶，實現高效的產品厚度測量。3.膜厚儀還具有探頭零校準和兩點校準功能。該功能可以自動糾正系統(tǒng)檢測中產生的誤差，提高設備的檢測效率。4.該設備還可以通過已知的產品厚度來測量產品的聲速，幫助用戶較好地測量
RoHS檢測儀的分析原理
? ? ?RoHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢悾ㄩL色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。? ? &nbs