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X射線熒光光譜儀經(jīng)過這些年不斷的發(fā)展和技術(shù)完善,在很多方面都已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。但是我們對于它的了解并不多。如果我們想要好地使用它,讓它為我們提供準確的測量結(jié)果,我們必須要了解相關(guān)的內(nèi)容才行。今天就跟著X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。X射線熒光光譜分析樣品制備:進行X射線熒光光譜分析的樣品,可以是固態(tài),也可以是水溶液。無論什么樣品,樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣
XU-100光譜測厚儀相比其他品牌測厚儀有哪些優(yōu)勢?
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計,搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。檢測各種金屬鍍層,檢出限可達0.005μm,較近測距光斑擴散度10%以內(nèi),凹槽深度測量范圍可達030mm,是一款測量鍍層厚度*、適用性強的機型。① 下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。② 高精密微型移動滑軌:快速精準定位樣品。③ 微焦X
部分金屬離子溶于水中時,會呈現(xiàn)出特殊的顏色,不呈現(xiàn)特殊顏色的重金屬溶液,則可以通過加入顯色劑后生成特定的顏色,顏色深度與物質(zhì)含量成正比,檢測儀根據(jù)光被有色溶液吸收的強度,利用光電比色法,將透過有色溶液的光強度成正比例地變換為電流的強度,即可測定溶液中物質(zhì)的含量。接下來和一六一起了解金屬鍍層厚度分析儀在校準過程中需要注意的問題。金屬鍍層厚度分析儀在校準過程中需要注意的問題:1.儀器的校正對于不同的使
XTU-4C是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度較高的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強的機型。臺式XTU-4C涂鍍層測厚儀分析優(yōu)勢:1.即放即測※C型樣品腔體設(shè)計便于放置樣品※放置樣品后,僅需幾秒便能出※無損分析:*破壞樣品2較佳設(shè)計,快速找點※高分辨率和高放大倍率的彩色數(shù)碼影像裝置,
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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