巴西ANATEL發(fā)布*21、23和25號公眾咨詢

時(shí)間：2021-06-07作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：547

深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于FCC認(rèn)證機(jī)構(gòu),深圳3C認(rèn)證機(jī)構(gòu),深圳檢測機(jī)構(gòu),燈具檢測機(jī)構(gòu),LED燈具檢測,EMC檢測等

• 詞條

  詞條說明

• 新歐盟商品安全法規(guī)7月16號生效， 沒有CE標(biāo)志，歐盟Listing被暫停銷售！

  新歐盟商品安全法規(guī)7月16號生效， 沒有CE標(biāo)志，歐盟Listing被暫停銷售！新歐盟商品安全法規(guī)（稱為《歐盟市場監(jiān)管法規(guī) 2019/1020》）將于 2021 年 7 月 16 日生效， 要是您的產(chǎn)品沒有CE Marking及位于歐盟境內(nèi)的負(fù)責(zé)人屬于違法行為！沒有歐代英代將禁止入倉！即使已經(jīng)在倉庫也將會被移除所有庫存。

• 電動(dòng)玩具GB 19865:2005標(biāo)準(zhǔn)及法規(guī)要求

  電動(dòng)玩具通常具備更多的玩耍和使用功能而深受兒童的喜愛。由于電子電路被應(yīng)用在玩具上，為了全面**兒童的安全，有關(guān)電器安全及由此帶來的相關(guān)安全問題引起了各國的關(guān)注。標(biāo)準(zhǔn)及法規(guī)要求**標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62115:2003+A1:2004+A2:2010歐盟：EN 62115:2005+A2:2011美國：16 CFR 1505:2009中國：GB 19865:2005澳大利亞：AS/NAS 62115:2

• 元器件封裝中的失效/可靠性問題，你又了解多少

  電子器件是一個(gè)非常復(fù)雜的系統(tǒng)，其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此，研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個(gè)系統(tǒng)性的了解，這樣才能從多個(gè)角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。?封裝的失效機(jī)理可以分為兩類：過應(yīng)力和磨損。過應(yīng)力失效往往是瞬時(shí)的、災(zāi)難性的；磨損失效是長期的累積損壞，往往首先表示為性能退化，接著才是器件失效。失效的負(fù)載類型又可以分為機(jī)械、熱、電氣、輻射和化學(xué)負(fù)載等。?影響封裝

• 標(biāo)準(zhǔn)對金相檢驗(yàn)項(xiàng)目要求分析

  ? 為查明不同國家的鋼鐵標(biāo)準(zhǔn)為什么會有這樣顯著的差別，首先查閱了相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)對金相檢驗(yàn)要求的演變歷史。GB 699-1965《優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼鋼號和一般技術(shù)條件》中規(guī)定的金相檢驗(yàn)項(xiàng)目有斷口、低倍組織、脫碳、夾雜物、顯微組織、淬透性及晶粒度，比現(xiàn)行的GB/T 699-2015要求的項(xiàng)目還要多。? ? ? 可見標(biāo)準(zhǔn)要求金相檢驗(yàn)項(xiàng)目多是制定標(biāo)準(zhǔn)的習(xí)慣造成的，幾十年來，