詞條
詞條說(shuō)明
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的可持續(xù)發(fā)展趨勢(shì)
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是現(xiàn)代工業(yè)測(cè)量的理想選擇,三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)發(fā)展*,功能也越來(lái)越完善,目前來(lái)說(shuō),三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)還是有不少的發(fā)展提升空間,以下幾點(diǎn)尤為重要: 1、提高測(cè)量精度 2、提高測(cè)量效率 3、發(fā)展新型測(cè)頭技術(shù) 4、采用新材料, 運(yùn)用新技術(shù) 5、發(fā)展軟件技術(shù),發(fā) 展智能測(cè)量機(jī) 6、控制系統(tǒng)較開放 7、進(jìn)入制造系統(tǒng),成 為制造系統(tǒng)組成部分 8、加強(qiáng)量值傳遞、誤差與補(bǔ)償?shù)难芯?/p>
工欲善其事必先利其器,接觸式三坐標(biāo)的“器”就是測(cè)針等附件。蔡司三坐標(biāo)配件種類很多,這篇文章著重介紹附件測(cè)針的相關(guān)知識(shí)。 測(cè)針知識(shí) 1. 測(cè)針尺寸標(biāo)識(shí)說(shuō)明 選擇或者購(gòu)買測(cè)針,需要清楚需要什么樣的測(cè)針。我們需要了解關(guān)于測(cè)針的一些標(biāo)識(shí)。 DG:M5規(guī)格測(cè)針 11mm;M3規(guī)格測(cè)針 5mm DK:測(cè)球直徑大小 L:測(cè)針總長(zhǎng)度(從接觸端面到測(cè)球的距離) ML:測(cè)針有效長(zhǎng)度(測(cè)針實(shí)際較*作范圍) MLE:測(cè)
工業(yè)CT也叫計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),是利用X射線直接照射到測(cè)試件上,捕獲測(cè)試件內(nèi)部和外部的完整、精確的圖像。其工作原理可以簡(jiǎn)單概括為:從X射線源**出來(lái)的X射線對(duì)在X射線源和檢測(cè)器之間做平移運(yùn)動(dòng)的被檢測(cè)物體進(jìn)行掃描,在一次掃描結(jié)束后,被檢測(cè)物體旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度再進(jìn)行下一次掃描,直至完成整個(gè)工件的掃描,即可得到被檢測(cè)物體的某一斷面的若干組數(shù)據(jù)。 這些信息數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)計(jì)算、處理,重新建立一個(gè)完整的斷面圖像
蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)的測(cè)量方式分類
大家好,今日小編跟大家分享下,蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CMM的測(cè)量方式分類有哪些? 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)的測(cè)量方式常見三大分類: 1. 接觸式測(cè)量方式 2. 非接觸式測(cè)量方式 3. 接觸與非接觸并用式測(cè)量的測(cè)量方式 其中接觸測(cè)量方式應(yīng)用范圍較為廣泛,常用于機(jī)加工產(chǎn)品、壓制成型產(chǎn)品、金屬膜等測(cè)量。為了分析工件加工數(shù)據(jù),或?yàn)槟嫦蚬こ烫峁┕ぜ夹畔?,?jīng)常需要用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)對(duì)被測(cè)工件表面進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)掃描。 小編
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