六臺快速溫度循環(huán)試驗箱交付廣東瑞谷光網(wǎng)通信股份有限公司使用！

時間：2016-12-14

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
功能電路板老化試驗
1、目的使功能板在一個具有溫度變化的熱老化設備內，經(jīng)受空氣溫度的變化，通過高溫，低溫，高低溫變化以及電功率等綜合作用，暴露功能板的缺陷，如焊接不佳，元件參數(shù)不匹配，溫漂以及調試過程中造成的故障，以便以剔除，對無缺陷的功能板將起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。2、檢測環(huán)境條件溫度：15~35℃相對濕度：45％~75％大氣壓力：86~106KPa3、老化前的要求3.1觀檢測：所有要老化的功能板需**行目測，對于有明
高溫試驗箱、高溫烘箱、電熱鼓風干燥箱
高溫試驗箱、高溫烘箱、電熱鼓風干燥箱強制對流式特點： · 按上下鍵即可人工輸入?yún)?shù)，設定方便簡單，同時顯示設定溫度、測量溫度； · 具有獨立的**溫保護裝置，提高了產(chǎn)品的可靠性和安全性； · 采用微電腦PID控制，具有PID自整定功能，確保設備在任何工作狀態(tài)下都能達到較佳控溫精度； · 方便的溫度補償功能，較好地避免了顯示溫度值與實際溫度值的誤差； · *特的立式拼裝設計，使箱體結構較合理,
PCB的環(huán)境測試有哪些類型
高加速試驗加速試驗包括高加速壽命試驗(HALT)和高加速應力篩檢(HASS)。這些測試評估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性，包括高溫、高濕和設備通電時的振動/沖擊測試。目標是模擬可能導致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測試期間，產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗通常包括在一個小的環(huán)境室中進行試驗。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中，因此PCB可靠性的常見測試是吸水測試。在這種類型的測試中，PCB在
充電樁環(huán)境測試標準
一、低溫試驗標準：充電樁放入環(huán)境試驗箱，按照GB/T 2423.1-2008的“試驗Ab：非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗”要求，試驗溫度為-25℃（室外型）。待環(huán)境試驗箱試驗溫度穩(wěn)定后，充電樁設置在額定負載狀態(tài)下運行，充電樁顯示功能、輸入功能和通信功能應正常。試驗溫度持續(xù)2h后，在試驗環(huán)境下充電樁充電控制導引、顯示功能、輸入功能、通信功能和保護功能應正常。歐標：充電樁放入環(huán)境試驗箱，按照IEC6