X射線光電子能譜XPS

時間：2022-03-04作者：昂星新型碳材料常州有限公司瀏覽：384

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• 詞條

  詞條說明

• 電感耦合等離子體**光譜儀/質(zhì)譜儀ICP-OES/MS

  一、產(chǎn)品概述名稱：電感耦合等離子體**光譜儀/質(zhì)譜儀ICP-OES/MS產(chǎn)品原理：光譜儀：不同元素的原子在激發(fā)或電離時，**不同波長的特征光譜，故根據(jù)特征光的波長可進(jìn)行定性分析；元素的含量不同時，**特征光的強(qiáng)弱也不同，據(jù)此可進(jìn)行定量分析。質(zhì)譜儀：使試樣中各組分電離生成不同荷質(zhì)比的離子，經(jīng)加速電場的作用，形成離子束，進(jìn)入質(zhì)量分析器，利用電場和磁場使發(fā)生相反的速度色散，與此同時，在磁場中還能發(fā)生質(zhì)量

• 差熱分析儀

  一、產(chǎn)品概述名稱：差熱分析儀產(chǎn)品原理：差示掃描量熱法（DSC）是在程序控制溫度下，測量輸給物質(zhì)與參比物的功率差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。型號：鉑金埃爾默DSC8000?二、產(chǎn)品應(yīng)用應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛用于適用于藥品、食品、高分子、化工產(chǎn)品等產(chǎn)品熔點(diǎn)測定、結(jié)晶度測定、熱歷史研究、油和蠟的熱分析、原材料分析、固化轉(zhuǎn)變、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的測量、氧化誘導(dǎo)時間測量、等溫結(jié)晶及等溫動力學(xué)研究、比熱測量、純度測量

• 全自動比表面及孔隙度分析儀BET

  一、產(chǎn)品概述名稱：全自動比表面及孔隙度分析儀BET原理：儀器可進(jìn)行單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積Langmuir比表面積、BJH介孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積、密度函數(shù)理論（DFT）、吸附熱及平均孔大小等的多種數(shù)據(jù)分析。儀器的工作原理為等溫物理吸附的靜態(tài)容量法。型號：麥克ASAP2460二、產(chǎn)品應(yīng)用：應(yīng)用領(lǐng)域：適用于各種材料的研究與產(chǎn)品測試，包括測量沸石、碳材料、分子篩、二氧化硅、氧化鋁、土壤、黏

• 普通XRD

  一、產(chǎn)品概述名稱：普通XRD產(chǎn)品原理：束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射，互相干涉而產(chǎn)生較大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=nλ，應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析；另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進(jìn)而可在已有資料查出